%A Quang Huy Tran
%A Dinh Chinh Nguyen
%A Dinh Long Vu
%A Duc Tan Tran
%T Mô phỏng và thực nghiệm kiểm chứng tạo dữ liệu siêu âm cắt lớp
%X Chụp ảnh  siêu  âm  cắt  lớp  là  kỹ  thuật  có nhiều  tiềm năng ứng  dụng;  sử  dụng kĩ thuật  tán  xạ ngược nên  có  thể  phát  hiện được  các  u có  kích  thước  nhỏ hơn bước sóng. Tuy nhiên do sử dụng kỹ thuật tán xạ ngược nên có độ phức  tạp  tính  toán  rất  lớn,  là  rào  cản  lớn để thương mại  hóa  thiết  bị  sử  dụng  công  nghệ  này.  Hiển nhiên là độ phức  tạp  sẽ tăng nếu như yêu cầu  tạo ảnh có độ  phân  giải cao.  Mục  tiêu  của  bài  báo  này  là  so  sánh  dữ liệu  thực nghiệm  là  tín  hiệu  áp  suất  tán  xạ thu được  tại các đầu  thu với kết quả mô phỏng với các độ phân giải khác nhau, từ đó xác định được độ phân giải ảnh phù hợp (là khi kết quả mô phỏng  và  thực  nghiệm  là  sát  nhau),  cho  phép  cải  tiến  hiệu năng tạo ảnh siêu âm cắt lớp.
%C Nha Trang, Vietnam
%D 2014
%P 85-89
%L SisLab1375