eprintid: 2604
rev_number: 15
eprint_status: archive
userid: 12
dir: disk0/00/00/26/04
datestamp: 2017-11-02 22:11:19
lastmod: 2018-01-10 08:01:33
status_changed: 2018-01-10 08:01:33
type: conference_item
metadata_visibility: show
creators_name: Tran Quang, Huy
creators_name: Nguyen The, Lam
creators_name: Tran, DucTan
creators_id: tranquanghuysp2@gmail.com
creators_id: nguyenthelam@hpu2.edu.vn
creators_id: tantd@vnu.edu.vn
title: Quy trình kết hợp đa tần số hiệu quả trong việc nâng cao chất lượng khôi phục ảnh siêu âm cắt lớp
ispublished: inpress
subjects: ElectronicsandComputerEngineering
divisions: fac_fet
abstract: Phương pháp lặp vi phân Born (DBIM) sử dụng thông tin đa tần số đã được nghiên cứu và ứng dụng trong kỹ thuật siêu âm cắt lớp. Tuy nhiên, việc sử dụng các tần số khác nhau ở các vòng lặp khác nhau trong phương pháp DBIM không được sử dụng một cách nhất quán. Bước nhảy tần số thường được lựa chọn tùy thuộc vào người xây dựng kịch bản mô phỏng hay thực nghiệm. Dựa vào kỹ thuật kết hợp đa tần số, trong bài báo này, chúng tôi đề xuất một quy trình kết hợp đa tần số hiệu quả nhằm nâng cao chất lượng khôi phục ảnh siêu âm cắt lớp sử dụng âm cơ bản và các họa âm (FTaOT). Kết quả mô phỏng số chỉ ra rằng, lỗi chuẩn hóa của phương pháp đề xuất giảm 45% so với phương pháp kết hợp hai tần số thông thường. Các kịch bản sử dụng giải pháp kết hợp đa tần số khác cũng được mô phỏng để chứng minh tính khả thi của phương pháp đề xuất.
date: 2017-12-14
date_type: published
official_url: http://rev-conf.org
full_text_status: public
pres_type: lecture
event_title: Hội nghị Quốc gia lần thứ XX về Điện tử, Truyền thông và Công nghệ Thông tin
event_location: Ho Chi Minh
event_dates: 14-15/12/2017
event_type: conference
refereed: TRUE
related_url_url: http://rev-conf.org
citation:   Tran Quang, Huy and Nguyen The, Lam and Tran, DucTan  (2017) Quy trình kết hợp đa tần số hiệu quả trong việc nâng cao chất lượng khôi phục ảnh siêu âm cắt lớp.  In: Hội nghị Quốc gia lần thứ XX về Điện tử, Truyền thông và Công nghệ Thông tin, 14-15/12/2017, Ho Chi Minh.    (In Press)  
document_url: https://eprints.uet.vnu.edu.vn/eprints/id/eprint/2604/1/REV-ECIT_2017_paper_11.pdf