relation: https://eprints.uet.vnu.edu.vn/eprints/id/eprint/3597/
title: ỨNG DỤNG PHƯƠNG PHÁP NGHIỀN BI NĂNG LƯỢNG CAO ĐỂ NÂNG  CAO HIỆU QUẢ PHÂN TÁN VẬT LIỆU GRAPHEN ĐA LỚP  TRONG CHẤT LỎNG
creator: Bui, Hung Thang
creator: Phan, Ngoc Minh
creator: Tran, Van Hau
creator: Pham, Van Trinh
creator: Nguyen, Phuong Hoai Nam
creator: Cao, Thi Thanh
creator: Vu, Dinh Lam
subject: Engineering Physics
description: Độ ổn định phân tán vật liệu graphen trong chất lỏng đóng vai trò rất quan  trọng để nâng cao hiệu quả ứng dụng trong nhiều lĩnh vực, như trong chất lỏng  nano, vật liệu tổ hợp, lĩnh vực y sinh, …. Do kích thước của vật liệu graphen  ảnh hưởng lớn đến sự phân tán và độ ổn định của graphene, vì vậy chúng tôi  hướng đến cách tiếp cận rất mới là sử dụng phương pháp nghiền bi năng lượng  cao nhằm giảm kích thước và tăng diện tích bề mặt riêng cho vật liệu graphen  đa lớp (GNPs). Các phép đo bề mặt (FE-SEM), quang phổ raman, phổ hấp thụ  hồng ngoại FTIR, phép đo diện tích bề mặt riêng (BET) được sử dụng để đánh  giá các đặc tính vật liệu, khả năng phân tán và độ ổn định phân tán trong chất  lỏng của vật liệu GNPs sau khi nghiền. Kết quả nghiên cứu cho thấy nghiền bi  năng lượng cao là phương pháp rất hiệu quả để nâng cao khả năng phân tán và  độ ổn định của vật liệu GNPs trong chất lỏng, nghiên cứu chỉ ra rằng vật liệu  GNPs được nghiền với thời gian 5 giờ có kích thước 218 nm, diện tích bề mặt  196,63 m2/g tăng 555% so với vật liệu graphen ban đầu, cho độ ổn định phân  tán tốt nhất với thế zeta đo được là 29,2 mV.
date: 2019
type: Article
type: PeerReviewed
format: application/pdf
language: en
identifier: https://eprints.uet.vnu.edu.vn/eprints/id/eprint/3597/1/Bai%204_full.pdf
identifier:   Bui, Hung Thang and Phan, Ngoc Minh and Tran, Van Hau and Pham, Van Trinh and Nguyen, Phuong Hoai Nam and Cao, Thi Thanh and Vu, Dinh Lam  (2019) ỨNG DỤNG PHƯƠNG PHÁP NGHIỀN BI NĂNG LƯỢNG CAO ĐỂ NÂNG CAO HIỆU QUẢ PHÂN TÁN VẬT LIỆU GRAPHEN ĐA LỚP TRONG CHẤT LỎNG.  Hue University Journal of Science - Natural Science, 128  (1C).    ISSN 1859-1388